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Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)
Aberrationskorrigierte Bildgebung in der Transmissionselektronenmikroskopie bietet eine Einführung in die aberrationskorrigierte Bildgebung in der atomar auflösenden Elektronenmikroskopie in den Material- und Physikwissenschaften. Es behandelt sowohl den Breitstrahl-Transmissionsmodus (TEM; Transmissionselektronenmikroskopie) als auch den Rastertransmissionsmodus (STEM; Rastertransmissionselektronenmikroskopie).
Das Buch ist in drei Teile gegliedert. Der erste Teil führt in die Grundlagen der konventionellen Elektronenmikroskopie mit atomarer Auflösung im TEM- und STEM-Modus ein. In diesem Teil werden auch die Grenzen konventioneller Elektronenmikroskope und mögliche Artefakte beschrieben, die durch die in solchen Instrumenten unvermeidlichen Linsenfehler verursacht werden.
Der zweite Teil führt in grundlegende Konzepte der Elektronenoptik ein und bietet somit eine kurze Einführung in die Elektronenoptik. Aufbauend auf dem ersten und zweiten Teil des Buches konzentriert sich der dritte Teil auf die Aberrationskorrektur; er beschreibt die verschiedenen Aberrationen in der Elektronenmikroskopie und führt in die Konzepte der Korrektoren für sphärische Aberration und fortgeschrittene Aberrationskorrektoren, einschließlich der Korrektoren für chromatische Aberration, ein.
Dieser Teil enthält auch Richtlinien zur Optimierung der Abbildungsbedingungen für die atomar auflösende STEM- und TEM-Abbildung. Diese zweite Auflage wurde vollständig überarbeitet und aktualisiert, um die jüngsten technologischen und wissenschaftlichen Errungenschaften, die seit dem Erscheinen der ersten Auflage im Jahr 2010 erzielt wurden, zu berücksichtigen.
| ISBN: | 9781783265282 |
| Autor: | |
| Verlag: | |
| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Hardcover |
| Erscheinungsjahr: | 2015 |
| Seitenzahl: | 432 |
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