
Accelerated Life Testing of One-Shot Devices: Data Collection and Analysis
Ein "One-Shot"-Gerät ist eine Einheit, die ihre Funktion nur einmal ausführt und nicht mehr als einmal zur Prüfung verwendet werden kann. Beispiele sind elektrische Sprengsätze, Feuerlöscher, Airbags in Autos und Raketen.
Bei der Prüfung von One-Shot-Geräten kann nur der Zustand des Geräts zu einem bestimmten Prüfzeitpunkt aufgezeichnet werden, und genaue Ausfallzeiten lassen sich aus der Prüfung nicht ableiten. Infolgedessen sind die Lebensdauern der Geräte entweder links- oder rechtszensiert. Aufgrund des Mangels an Lebensdauerdaten, die bei Lebensdauertests erfasst werden, wird die Abschätzung der Zuverlässigkeit von One-Shot-Bauteilen mit herkömmlichen Ansätzen zur Herausforderung.
Dieses Buch befasst sich in erster Linie mit grundlegenden Fragen der statistischen Modellierung auf der Grundlage von One-Shot-Bauteildaten, die in beschleunigten Lebensdauertests erhoben wurden. Dieses Buch bietet auch fortgeschrittene statistische Techniken.
Zum Beispiel Erwartungsmaximierungsalgorithmen und Bayes'sche Ansätze, um die Herausforderungen der Schätzung zu bewältigen, zusammen mit einer umfassenden Datenanalyse von One-Shot-Geräten bei beschleunigten Lebensdauertests. Die Leser können die Techniken aus diesem Buch auf ihre eigenen Lebensdauerdaten mit Zensierung anwenden.
Dieses Buch ist ideal für Doktoranden, Forscher und Ingenieure, die sich mit der Analyse von Daten aus beschleunigten Lebensdauertests beschäftigen.