Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Dieses Buch bietet einen aktuellen Überblick über die experimentellen und theoretischen Methoden zur Untersuchung von Defekten in Halbleitern und konzentriert sich auf die jüngsten Entwicklungen, die durch die Anforderungen neuer Materialien wie Nitride, Oxid-Halbleiter und 2D-Halbleiter ausgelöst wurden.
Das von einem internationalen Team verfasste und von einem hoch angesehenen Forscher auf diesem Gebiet herausgegebene Buch behandelt eine Vielzahl von Charakterisierungstechniken und schlägt Methoden zur Kontrolle der Defekte und damit der Eigenschaften von Halbleitern vor.
| ISBN: | 9781785616556 |
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| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Hardcover |
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