Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications
Ein einzigartiger Text, der eine Einführung in die Nutzung der spektroskopischen Ellipsometrie für die Charakterisierung neuartiger Materialien bietet
In Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications (Einführung in die spektroskopische Ellipsometrie von Dünnfilmmaterialien: Instrumentierung, Datenanalyse und Anwendungen) zeigt ein Team herausragender Forscher auf, wie die traditionelle experimentelle Technik der spektroskopischen Ellipsometrie zur Charakterisierung der intrinsischen Eigenschaften neuartiger Materialien eingesetzt wird. Der Schwerpunkt des Buches liegt auf den wissenschaftlich und technologisch wichtigen zweidimensionalen Übergangsmetall-Dichalcogeniden (2D-TMDs), magnetischen Oxiden wie Manganit-Materialien und unkonventionellen Supraleitern, einschließlich Kupferoxid-Systemen.
Die renommierten Autoren erörtern die Charakterisierung von Eigenschaften wie elektronische Strukturen, Grenzflächeneigenschaften und die daraus resultierende Quasiteilchendynamik in neuartigen Quantenmaterialien. Neben anschaulichen und spezifischen Fallstudien, wie die spektroskopische Ellipsometrie zur Untersuchung der optischen und Quasiteilchen-Eigenschaften neuartiger Systeme eingesetzt wird, enthält das Buch: Gründliche Einführungen in die Grundprinzipien der spektroskopischen Ellipsometrie und stark korrelierte Systeme, einschließlich Kupferoxide und Manganite Umfassende Erkundungen zweidimensionaler Übergangsmetall-Dichalcogenide Praktische Erörterungen von Einschicht-Graphen-Systemen und Nickelat-Systemen Eingehende Untersuchungen möglicher zukünftiger Entwicklungen und Anwendungen der spektroskopischen Ellipsometrie
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials eignet sich perfekt für Master- und Doktoranden in Physik und Chemie und wird auch in den Bibliotheken derjenigen zu finden sein, die Materialwissenschaften studieren und ein umfassendes Nachschlagewerk für die Anwendung der spektroskopischen Ellipsometrie auf neu entwickelte Materialien suchen.
| ISBN: | 9783527349517 |
| Autor: | |
| Verlag: | |
| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Taschenbuch |
| Erscheinungsjahr: | 2022 |
| Seitenzahl: | 208 |
Derzeit verfügbar, auf Lager.
