Modeling Methods of Optical Inhomogeneous Structures
Die Arbeit wäre nützlich für Spezialisten auf dem Gebiet der Ellipsometrie und Ingenieure, die sich mit der Messung der rauen Oberfläche und der Bestimmung der Eigenschaften von inhomogenen Strukturen oder Filmen beschäftigen, wie z.B.: polymorphe Oxide von Titan oder Vanadium, Siliziumnitrid nach Oxidation, Wachstumsdefekte von MBE-Filmen.
Die Arbeit wäre für alle nützlich, die die Qualität der gewünschten Parameterschätzung verbessern wollen; vorausgesetzt, dass der Experimentator den neuen Algorithmus des Minimierungsverfahrens mit statistischer Analyse einer Reihe gefundener Lösungen und schrittweiser Variation der Simplex-Grenzen, die den Bereich der gewünschten Werte einschränken, verwendet.
| ISBN: | 9783659429774 |
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| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Taschenbuch |
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