Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces
Auf dem Gebiet der ultradünnen Schichten, einer Untergruppe der Nanomaterialien, hat die Forschung in den letzten 30 Jahren einen Aufschwung erlebt. Die Studien wurden hauptsächlich mit Neutronen- und Röntgenreflektometrie durchgeführt.
Die Technik der polarisierten Neutronenreflektometrie (PNR) ist ein einzigartiges, zerstörungsfreies Instrument zum Verständnis des Magnetismus dünner Schichten auf mesoskopischer Längenskala. Dieses Buch stellt Röntgen- und Neutronenreflektometrietechniken vor und zeigt, wie sie zur Erforschung der Grenzflächenstruktur und des Magnetismus auf mesoskopischer Längenskala in dünnen Schichten und Multilayern eingesetzt werden können. Der Text behandelt die Grundprinzipien der Neutronen- und Röntgenreflektivität und die verschiedenen Modi der Neutronenreflektivität mit vielen nützlichen Beispielen.
Der Referenztext ist hilfreich für Forschungsstudenten, die auf dem Gebiet des Grenzflächenmagnetismus in dünnen Schichten und Multilayern arbeiten. Hauptmerkmale: Führt den Leser in das Gebiet der Reflektometrie ein, insbesondere in die polarisierte Neutronenreflektometrie und die Röntgenreflektometrie.
Macht die Forscher mit der Bedeutung von Grenzflächeneigenschaften in dünnen Schichten vertraut. Zeigt anhand von Beispielen, wie Eigenschaften mit einer Auflösung im Subnanometerbereich bestimmt werden können.
Bietet eine Zusammenfassung mit einer großen Anzahl aktueller Beispiele und Referenzen.
| ISBN: | 9780750346931 |
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| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Hardcover |
| Erscheinungsjahr: | 2022 |
| Seitenzahl: | 182 |
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