On-Wafer-Mikrowellen-Messungen und De-Embedding

On-Wafer-Mikrowellen-Messungen und De-Embedding (Errikos Lourandakis)

Originaltitel:

On-Wafer Microwave Measurements and de-Embedding

Inhalt des Buches:

Diese neue maßgebliche Ressource stellt die Grundlagen der Netzwerkanalysator-Messgeräte und die Fehlerbehebung bei der On-Wafer-Mikrowellenmessung vor.

Weitere Daten des Buches:

ISBN:9781630810566
Autor:
Errikos Lourandakis
Verlag:
Artech House Inc
Sprache:Englisch
Einband:Hardcover
Erscheinungsjahr:2016
Seitenzahl:256

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