Optische Vollfeld-Metrologie und Anwendungen

Optische Vollfeld-Metrologie und Anwendungen (Fernando Mendoza-Santoyo)

Originaltitel:

Full Field Optical Metrology and Applications

Inhalt des Buches:

Methoden und Techniken der optischen Vollfeld-Messtechnik gibt es seit den ersten Interferometrie-Experimenten von Thomas Young im 19. In diesem Buch werden berührungslose optische Techniken, die auf dem Speckle-Effekt beruhen, näher vorgestellt. Es befasst sich auch mit der Oberflächenmesstechnik und erforscht andere Eigenschaften der Oberfläche, wie Dehnung, Spannung, Vibration, Konturierung und ihre x-, y- und z-Verschiebungen (gekoppelt als Vektoren in 2D und 3D). Darüber hinaus stellt das Buch moderne Methoden zur Phasenbestimmung, optische Kohärenztomographie (OCT) und die Moir-Methode vor.

Das Buch befasst sich mit den theoretischen Grundlagen und untersucht eine Reihe von Anwendungen für die optische Vollfeld-Messtechnik, die in vielen Bereichen von Interesse sind, wie z. B. in der Biomedizin, der Qualitätskontrolle, der Fernerkundung und -sondierung sowie dem Fertigungsdesign.

Wissenschaftler und Ingenieure, die ein Nachschlagewerk mit detaillierten Informationen über Methoden/Techniken in der Vollfeld-Speckle-basierten Metrologie suchen, sind die Hauptadressaten dieses Textes.

Hauptmerkmale

⬤ Bietet Grundlagen zum klassischen Thema der Interferometrie.

⬤ Verfolgt mehrere Anwendungen für die optische Vollfeld-Messtechnik, die bekanntermaßen in vielen Bereichen von Interesse sind, wie z. B. Biomedizin, Qualitätskontrolle, Fernerkundung und -sondierung sowie Fertigungsdesign.

⬤ Enthält eine vollständige Beschreibung der Methodik zur Durchführung von digitaler 3D-Holografie/Speckle-Interferometrie und Elektronenholografie, die beide in anderen Texten nicht verfügbar sind.

Weitere Daten des Buches:

ISBN:9780750330251
Autor:
Verlag:
Sprache:Englisch
Einband:Hardcover
Erscheinungsjahr:2022
Seitenzahl:338

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Letzte Änderung: 2024.11.13 22:11 (GMT)