Leserbewertungen
Zusammenfassung:Das Buch wird für seine umfassende Abdeckung der Zuverlässigkeitsphysik mit Schwerpunkt auf der Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen (IC) gelobt. Es ist gut strukturiert, beginnt mit grundlegenden Konzepten und geht zu komplexen Themen über, unterstützt durch Beispiele aus der Praxis und praktische Probleme.
Vorteile:Gründliche Erklärung der Zuverlässigkeitsphysik, ausgezeichnet für technische Anwendungen, starke Betonung der IC-Zuverlässigkeit, grundlegender Ansatz in der Thermodynamik, praktische Beispiele und Probleme für ein besseres Verständnis.
Nachteile:In den Rezensionen nicht erwähnt.
(basierend auf 4 Leserbewertungen)
Originaltitel:
Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling
Inhalt des Buches:
Bietet ein umfassendes Lehrbuch über die Zuverlässigkeitsphysik von Halbleitern, von den Grundlagen bis zu den Anwendungen.
Erläutert die Grundlagen der Zuverlässigkeitsphysik und technische Hilfsmittel für die Entwicklung besserer Produkte.
Enthält statistisches Training und Werkzeuge innerhalb des Textes.
Enthält neue Kapitel über Physik der Degradation sowie Resonanz und resonanzinduzierte Degradation.
Weitere Daten des Buches:
| ISBN: | 9783319936826 |
| Autor: | |
| Verlag: | |
| Einband: | Hardcover |
| Erscheinungsjahr: | 2019 |
| Seitenzahl: | 463 |
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