Noise Analysis and Measurement for Active Pixel Sensor Readout Methods
Es wurde eine detaillierte experimentelle und theoretische Untersuchung des Rauschens in aktiven Pixelsensoren (APS) aus amorphem Silizium (a-Si) sowohl im Strommodus als auch im Spannungsmodus durchgeführt.
Sowohl Flicker (1/f) als auch thermisches Rauschen werden in dieser Studie berücksichtigt. Die experimentellen Ergebnisse in diesem Papier legen den Schwerpunkt auf die Berechnung der Varianz des Ausgangsrauschens.
Die theoretische Analyse zeigt, dass das APS im Spannungsmodus einen Vorteil gegenüber dem APS im Strommodus in Bezug auf das Flickerrauschen aufgrund des Auslesevorgangs hat. Die experimentellen Daten werden mit der theoretischen Analyse verglichen und sind in guter Übereinstimmung.
| ISBN: | 9783639361544 |
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| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Taschenbuch |
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