Röntgenstrukturanalyse

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Originaltitel:

X-Ray Structure Analysis

Inhalt des Buches:

Dieses Buch bietet einen kompakten Überblick über Kristallographie, Symmetrie und Anwendungen von Symmetriekonzepten.

Der Autor erklärt die Theorie der Streuung und Beugung von elektromagnetischer Strahlung. Die Röntgenbeugung an Einkristallen sowie die quantitative Auswertung von Pulvermustern werden diskutiert.

Das Buch führt auch in Anwendungen der Gruppentheorie und Tensoreigenschaften von Kristallen ein.

Weitere Daten des Buches:

• ISBN: 9783110610703
• Autor: Theo Siegrist
• Verlag: De Gruyter
• Einband: Taschenbuch