Sekundärionen-Massenspektrometrie: Anwendungen für Tiefenprofilierung und Oberflächencharakterisierung

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Originaltitel:

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization

Inhalt des Buches:

Dieses Buch wurde geschrieben, um eine Technik zu erklären, die das Verständnis vieler Details erfordert, um die erhaltenen Daten richtig zu erhalten und zu interpretieren.

Es dient auch als Referenz für diejenigen, die SIMS-Daten bereitstellen müssen. Das Buch enthält über 200 Abbildungen und die Referenzen ermöglichen es, die Entwicklung von SIMS nachzuvollziehen und die vielen Details der Technik zu verstehen.

Weitere Daten des Buches:

• ISBN: 9781606505885
• Autor: Fred Stevie
• Verlag: Cab Intl
• Einband: Taschenbuch