Tensoriale Analyse von Netzwerken (Tan) Modellierung für PCB Signalintegrität und EMC Analyse

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Tensoriale Analyse von Netzwerken (Tan) Modellierung für PCB Signalintegrität und EMC Analyse (Blaise Ravelo)

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Originaltitel:

Tensorial Analysis of Networks (Tan) Modelling for PCB Signal Integrity and EMC Analysis

Inhalt des Buches:

Dieses Buch beschreibt eine schnelle, genaue und flexible Modellierungsmethodik für Leiterplatten. Das Modell verwendet das Konzept der Tensorialen Analyse von Netzwerken (TAN) auf der Grundlage der Kron- und Kron-Branin-Methoden, die von O. Maurice für den Einsatz in der EMV angepasst wurden. Der TAN-Ansatz wird auf die Analyse der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) von Leiterplatten angewendet.

In jedem Kapitel wird eine Methodik vorgestellt, die aus der Problemformulierung, der klassischen Schaltungsbeschreibung, den TAN-Primitivelementen, der Ausarbeitung der TAN-Graphentopologie, der metrischen Mathematisierung des Problems und der Lösung des gestellten Problems auf der Grundlage von Python- und Matlab-Routinealgorithmen besteht. Dieser methodische Ansatz wurde auf die folgenden Themen angewandt: Grundkenntnisse zur Anwendung von TAN für die SI/PI/EMV-Untersuchung von Leiterplatten; Analyse der primitiven Komponenten von Leiterplatten mit TAN; analytische Berechnung der Z/Y/T/S-Matrizen von Leiterbahnen mit dem TAN-Ansatz; schnelle S-Parameter-Modellierung von rechteckigen Wellenleitern (RWG) mit der Kron-Methode; TAN-Modellierung von Leiterplattensystemen im Zeitbereich mit der Kron-Methode; direkte Zeitbereichsanalyse mit der TAN-Methode für die Leiterplattenmodellierung; Kopplung zwischen EM-Feld und mehrlagiger Leiterplatte mit MKME; EMV-TAN-Modellierung der leitungsgebundenen Emissionen (CE); EMV-TAN-Modellierung der leitungsgebundenen Suszeptibilität (CS) von Leiterplatten; EMV-TAN-Modellierung der gestrahlten Suszeptibilität (RS) von Leiterplatten; TAN-Modell der Einkopplung einer Schleifensonde in ein abgeschirmtes Koaxialkurzkabel; EMV-Modell des nichtlinearen Verhaltens einer gemischten Leiterplatte auf ADC-Basis unter Hochfrequenzstörung (RFI); Fernfeldvorhersage durch Kombination von Simulationen mit Nahfeldmessungen zur EMI-Bewertung von Leiterplatten; und Informationselemente für die numerische Modellierung von Leiterplatten.

Mit seinem hochgradig systematischen Ansatz zur Behandlung von TAN-Modellierungsmethoden bietet dieses Buch den Entwicklern und Herstellern von analogen, HF-, digitalen und Mixed-Signal-Elektronikschaltungen und -systemen wichtige Informationen und neue Lösungen.

Weitere Daten des Buches:

ISBN:9781839530494
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Einband:Hardcover

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Letzte Änderung: 2024.11.13 22:11 (GMT)