Testing Methods For Fault Detection In Electronic Circuits
Dieses Buch enthält zwei Testmethoden, die auf eingebauten Sensoren (BIS) und einer optimierungsbasierten Technik basieren. Im ersten Teil werden zwei neuartige eingebaute Sensoren (BIS) für die Prüfung digitaler CMOS- und analoger Schaltungen vorgeschlagen.
Die BISs haben keinen Spannungsabfall, können Unterbrechungs- und Kurzschlussfehler erkennen, identifizieren und lokalisieren, sind einfach zu realisieren und haben eine sehr kleine Fläche und Erkennungszeit. Ein BIS wird zum Testen einer 4x4-Multiplikatorzelle verwendet, bei der alle injizierten Fehler erkannt und lokalisiert werden. Der andere BIS ist für die Prüfung analoger Schaltungen bestimmt.
Es wird zum Testen von zwei bekannten analogen Bausteinen eingesetzt, dem Current Feedback Operational Amplifier (CFOA) und dem Operational Transresistance Amplifier (OTRA). Der vorgeschlagene BIS testet die Anschlusseigenschaften der analogen Blöcke.
Es werden Simulationen durchgeführt, um einen CFOA-basierten analogen Universalfilter und einen OTRA-basierten Universalfilter zu testen. Im zweiten Teil wird ein Prüfalgorithmus zur Erkennung von einfachen und doppelten parametrischen Fehlern in analogen Schaltungen durch Schätzung der tatsächlichen Parameterwerte der CUT vorgeschlagen.
Der Algorithmus wird auf ein Sallen-Key-Bandpassfilter zweiter Ordnung angewendet, und die Simulationen zeigen, dass alle injizierten Fehler korrekt erkannt und diagnostiziert werden.
| ISBN: | 9783659383632 |
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| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Taschenbuch |
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