Zuverlässigkeit und Degradation von optischen III-V-Bauelementen

Zuverlässigkeit und Degradation von optischen III-V-Bauelementen (Osamu Ueda)

Originaltitel:

Reliability and Degradation of III-V Optical Devices

Inhalt des Buches:

Dieser Text soll Forschern und Ingenieuren, die sich mit dem Wachstum und der Verarbeitung von III-V-Verbindungshalbleiter-Dünnschichten befassen, helfen.

Er zeigt den Mechanismus der Degradation auf, beschreibt die wichtigsten Degradationsarten von optischen Geräten, die aus drei verschiedenen Systemen hergestellt wurden, und beschreibt Methoden zur Beseitigung von defekterzeugenden Mechanismen.

Weitere Daten des Buches:

ISBN:9780890066522
Autor:
Verlag:
Sprache:Englisch
Einband:Hardcover

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