Originaltitel:
Engineering Materials Characterization
Inhalt des Buches:
Die Materialwissenschaft bildet heute die Grundlage für alle technologischen und industriellen Entwicklungen.
Das Buch vermittelt ein Verständnis für die fortschrittlichen spektroskopischen und mikroskopischen Instrumente, die zur Materialcharakterisierung eingesetzt werden. Die wichtigsten behandelten Themen sind 1) ein detailliertes Verständnis der Instrumente, einschließlich ihrer Funktionsweise und Handhabung, 2) Probenvorbereitung und 3) Datenanalyse und -interpretation.
Das Buch ist in zwei Teile gegliedert: Teil A behandelt mikroskopische Instrumente, bestehend aus Lichtmikroskop, Rasterelektronenmikroskopie, Rasterkraftmikroskopie, Feldemissionsrasterelektronenmikroskop und Röntgenbeugung. Teil B befasst sich mit spektroskopischen Instrumenten und umfasst FTIR-Spektrometer, Raman-Spektrometer, Röntgen-Photoelektronenspektroskopie, Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie, Fluoreszenzspektroskopie und Kernresonanzspektroskopie.
Weitere Daten des Buches:
| ISBN: | 9783110997606 |
| Autor: | |
| Verlag: | |
| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Taschenbuch |
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