Eine Einführung in die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (Tof-Sims) und ihre Anwendung in der Materialwissenschaft

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Eine Einführung in die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (Tof-Sims) und ihre Anwendung in der Materialwissenschaft (Sarah Fearn)

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Originaltitel:

An Introduction to Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Tof-Sims) and Its Application to Materials Science

Inhalt des Buches:

Die Erforschung der dunklen Materie, sowohl in der Astrophysik als auch in der Teilchenphysik, hat sich in den letzten Jahren zu einem der aktivsten und spannendsten Forschungsthemen entwickelt. Dieses Buch gibt einen Überblick über die Geschichte der Entdeckung der fehlenden Masse (oder unsichtbaren Masse) im Universum und stellt eine Verbindung zu den vorgeschlagenen Erweiterungen des Standardmodells der Teilchenphysik (wie z.

B. der Supersymmetrie) her, die im gleichen Zeitraum vorgeschlagen wurden.

Dieses Buch ist als Einführung in diese Probleme an der Spitze der Astrophysik und Teilchenphysik geschrieben, mit dem Ziel, die Physik der dunklen Materie für Studienanfänger in wissenschaftlichen Bereichen zu vermitteln. In dem Buch werden bestehende und künftige Experimente und Techniken beschrieben, mit denen die dunkle Materie entweder direkt oder indirekt nachgewiesen werden soll.

Weitere Daten des Buches:

ISBN:9781681740249
Autor:
Verlag:
Sprache:Englisch
Einband:Taschenbuch

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Letzte Änderung: 2024.11.13 22:11 (GMT)