Fortgeschrittener VLSI-Entwurf und Fragen der Testbarkeit

Fortgeschrittener VLSI-Entwurf und Fragen der Testbarkeit (Lata Tripathi Suman)

Originaltitel:

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Inhalt des Buches:

Dieses Buch vermittelt VLSI-Interessierten nicht nur fundierte Kenntnisse, sondern auch die breit gefächerten Aspekte des Themas, indem es seine Anwendungen in verschiedenen Bereichen, einschließlich Bildverarbeitung und Biomedizin, erläutert. Das tiefe Verständnis grundlegender Konzepte gibt Ihnen die Möglichkeit, einen neuen Anwendungsaspekt zu entwickeln, was in diesem Buch durch die Verwendung einer einfachen Sprache bei der Erklärung der Konzepte sehr gut berücksichtigt wird.

In der VLSI-Welt kann die Bedeutung von Hardwarebeschreibungssprachen nicht ignoriert werden, da der Entwurf solch dichter und komplexer Schaltungen ohne sie nicht möglich ist. Sowohl Verilog als auch VHDL werden hier für den Entwurf verwendet. Die aktuellen Anforderungen an hochleistungsfähige integrierte Schaltungen (ICs), einschließlich stromsparender Bauelemente und neu aufkommender Materialien, die eine sehr wichtige Rolle bei der Erreichung neuer Funktionalitäten spielen können, sind der interessanteste Teil des Buches.

Das Testen von VLSI-Schaltungen wird in dieser Ära der Nanometertechnologie wichtiger als der Entwurf der Schaltungen.

Die Rolle von Fehlersimulationsalgorithmen wird sehr gut erklärt, und ihre Implementierung mit Verilog ist der Schlüsselaspekt dieses Buches. Dieses Buch ist gut in 20 Kapitel gegliedert.

Kapitel 1 legt den Schwerpunkt auf den Einsatz von FPGAs in verschiedenen Bildverarbeitungs- und biomedizinischen Anwendungen. Anschließend wird in den Kapiteln 2-5 das grundlegende Verständnis des digitalen Designs aus der Perspektive der HDL erläutert. Die Leistungssteigerung durch alternative Materialien oder Geometrien für siliziumbasierte FET-Designs wird in den Kapiteln 6 und 7 behandelt.

In den Kapiteln 8 und 9 wird die Untersuchung bimolekularer Wechselwirkungen mit Biosensor-FETs beschrieben. Die Kapitel 10-13 befassen sich mit fortschrittlichen FET-Strukturen, die in verschiedenen Formen und Materialien wie Nanodrähten und HFET erhältlich sind, sowie mit deren Vergleich im Hinblick auf die Berechnung von Leistungskennzahlen der Geräte. In den Kapiteln 14-18 werden verschiedene anwendungsspezifische VLSI-Designtechniken und Herausforderungen für analoge und digitale Schaltungsdesigns beschrieben.

Kapitel 19 erklärt die Probleme der VLSI-Testbarkeit mit der Beschreibung der Simulation und ihrer Kategorisierung in Logik- und Fehlersimulation für die Testmustergenerierung mit Verilog HDL. Kapitel 20 befasst sich mit einem gesicherten VLSI-Entwurf mit Hardwareverschleierung, bei dem die Struktur und Funktion des ICs verborgen wird, was ein Reverse Engineering erheblich erschwert.

Weitere Daten des Buches:

ISBN:9780367538361
Autor:
Verlag:
Einband:Taschenbuch
Erscheinungsjahr:2022
Seitenzahl:360

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