Scientific Researches in Atomic Force Microscopy
Dieses Buch beleuchtet die wissenschaftlichen Forschungen auf dem Gebiet der Rasterkraftmikroskopie.
Die Erfindung des Rasterkraftmikroskops (AFM) führte zu drastischen Veränderungen auf dem Gebiet der Oberflächenanalyse. Es erwies sich als entscheidende Untersuchungsmethode für die qualitative und quantitative Untersuchung von Oberflächen mit Auflösungen im Subnanometerbereich.
Darüber hinaus müssen die mit diesem Mikroskop analysierten Proben nicht vorher präpariert werden. Dadurch werden Veränderungen oder nachteilige Auswirkungen, die die Probe beschädigen könnten, vermieden und gleichzeitig eine dreidimensionale Untersuchung der äußeren Oberfläche ermöglicht. In diesem Buch werden die neuesten Arbeiten von Meistern dieser Methode aus der ganzen Welt vorgestellt.
Diese Methode hat sich bei der Beschaffung wichtiger Informationen in einem breiten Spektrum von Bereichen durchgesetzt. Seit ihrer Einführung im Jahr 1986 wird sie in vielen Bereichen der Fertigung, Forschung und Weiterentwicklung eingesetzt.
| ISBN: | 9781632384096 |
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| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Hardcover |
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