Bewertung:
Das Buch über die Rasterelektronenmikroskopie (REM) wird als umfassende und leicht zugängliche Quelle sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Benutzer hoch geschätzt. Es deckt die grundlegenden Prinzipien und technischen Details klar und prägnant ab, was es zu einer ausgezeichneten Wahl für diejenigen macht, die mit SEM arbeiten. Während das Buch für seine Gliederung, seine Illustrationen und die Tiefe der Informationen gelobt wird, merken einige Leser an, dass es manchmal etwas langatmig sein kann, und es gibt kleinere Probleme mit der Lieferung und dem Zustand.
Vorteile:Klarer und prägnanter Schreibstil, gut bebildert, übersichtliche Struktur, deckt sowohl Grundlagen als auch detaillierte technische Inhalte ab, geeignet für Anfänger und erfahrene Benutzer, ausgezeichnetes Referenzmaterial, angemessener Preis.
Nachteile:Manchmal etwas langatmig, geringfügige Lieferverzögerungen, einige Exemplare sind in schlechtem Zustand (lose Seiten), einige Benutzer erwähnen, dass die Gleichungen verbessert werden könnten.
(basierend auf 24 Leserbewertungen)
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Dieses Buch ist eine umfassende Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und die Röntgenmikroanalyse und damit ideal für Studenten und Praktiker.
Der Text wurde bei der Ausbildung von über 3.000 Studenten im Rahmen des Lehigh SEM-Kurzkurses sowie von Tausenden von Studenten und Hochschulabsolventen an Universitäten auf der ganzen Welt verwendet. Die Autoren betonen die praktischen Aspekte der beschriebenen Techniken.
Zu den behandelten Themen gehören die benutzergesteuerten Funktionen von Rasterelektronenmikroskopen und Röntgenspektrometern sowie die Verwendung von Röntgenstrahlen für die qualitative und quantitative Analyse. Separate Kapitel befassen sich mit REM-Probenvorbereitungsmethoden für harte Materialien, Polymere und biologische Proben.
| ISBN: | 9781461349693 |
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| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Taschenbuch |
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