Bewertung:
Das Buch über Rasterelektronenmikroskopie (REM) erhält überwältigend positive Kritiken von den Benutzern, wobei viele seine Klarheit, Organisation und Vollständigkeit loben. Es wird als maßgebliches Nachschlagewerk sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Benutzer bezeichnet. Die Benutzer schätzen die Abbildungen und den verständlichen Schreibstil, der komplexe Konzepte leichter zugänglich macht. Einige Kritiken erwähnen jedoch die Ausführlichkeit und Probleme mit dem Zustand einiger erhaltener Exemplare.
Vorteile:⬤ Gut gegliedert und informativ
⬤ klar und prägnant geschrieben
⬤ sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Benutzer leicht zu benutzen
⬤ ausgezeichnete Illustrationen
⬤ umfassende Abdeckung der SEM-Grundlagen und -Techniken
⬤ schneller Versand
⬤ guter Zustand der neuen Exemplare.
⬤ Einige Rezensionen erwähnen, dass das Buch manchmal sehr wortreich ist
⬤ einige Exemplare wurden in einem nicht ganz tadellosen Zustand erhalten
⬤ die Lieferzeit von Amazon war länger als erwartet.
(basierend auf 24 Leserbewertungen)
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Dieses Buch ist eine umfassende Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und die Röntgenmikroanalyse und damit ideal für Studenten und Praktiker.
Der Text wurde bei der Ausbildung von über 3.000 Studenten im Rahmen des Lehigh SEM-Kurzkurses sowie von Tausenden von Studenten und Hochschulabsolventen an Universitäten auf der ganzen Welt verwendet. Die Autoren betonen die praktischen Aspekte der beschriebenen Techniken.
Zu den behandelten Themen gehören die benutzergesteuerten Funktionen von Rasterelektronenmikroskopen und Röntgenspektrometern sowie die Verwendung von Röntgenstrahlen für die qualitative und quantitative Analyse. Separate Kapitel befassen sich mit REM-Probenvorbereitungsmethoden für harte Materialien, Polymere und biologische Proben.
| ISBN: | 9780306472923 |
| Autor: | |
| Verlag: | |
| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Hardcover |
Derzeit verfügbar, auf Lager.
