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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Dieses Buch hat sich durch Auswahl und Erweiterung aus seinem Vorgänger Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM) entwickelt, der 1975 von Plenum Press veröffentlicht wurde.
Die Interaktion der Autoren mit Studenten im Rahmen des jährlich an der Lehigh University stattfindenden Kurzkurses über Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikroanalyse hat bei der Entwicklung dieses Lehrbuchs sehr geholfen. Das Material wurde so ausgewählt, dass es den Studenten eine allgemeine Einführung in die Techniken der Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikroanalyse bietet, die für Anwendungen in Bereichen wie Biologie, Geologie, Festkörperphysik und Materialwissenschaft geeignet ist.
In Anlehnung an das Format von PSEM vermittelt dieses Buch dem Studenten grundlegende Kenntnisse über (1) die benutzergesteuerten Funktionen der Elektronenoptik des Rasterelektronenmikroskops und der Elektronenmikrosonde, (2) die Merkmale der Wechselwirkung zwischen Elektronenstrahl und Probe, (3) die Bildgestaltung und -interpretation, (4) die Röntgenspektrometrie und (5) die quantitative Röntgenmikroanalyse. Jedes dieser Themen wurde aktualisiert und in den meisten Fällen gegenüber dem in PSEM vorgestellten Material erweitert, um dem Leser eine ausreichende Abdeckung zu bieten, damit er diese Themen verstehen und die Informationen im Labor anwenden kann. Im gesamten Text haben wir versucht, die praktischen Aspekte der Techniken hervorzuheben, indem wir die Instruktionsparameter beschrieben haben, die der Mikroskopiker manipulieren kann und muss, um optimale Informationen aus der Probe zu erhalten.
Bestimmte Bereiche wurden aufgrund ihrer zunehmenden Bedeutung im Bereich der SEM besonders erweitert. So wird die energiedispersive Röntgenspektrometrie, die einen enormen Wachstumsschub erfahren hat, sehr ausführlich behandelt.
| ISBN: | 9781461332756 |
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| Sprache: | Englisch |
| Einband: | Taschenbuch |
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